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跳层,插buffer的解决方法也可以解决# Violation问题 **Antenna Effect概念** 在芯片生产过程中,暴露的金属线或者多晶硅(polysilicon)等导体,就像是一根根天线,会收集电荷(如等离子刻蚀产生的带电粒子)导致电位升高。天线越长,收集的电荷也就越多,电压就越高。若这片导体碰巧只接了MOS 的栅,那么高电压就可能把薄栅氧化层击穿,使电路失效,这种现象我们称之为“天线效应”。 ![](https://img.kancloud.cn/44/1e/441ed3c456c8c36956b37d9c78ee29a6_720x408.png) **Antenna Ratio** 通常情况下,我们用“天线比率”(“antenna ratio”)来衡量一颗芯片能发生天线效应的几率。“天线比率”的定义是:构成所谓“天线”的导体(一般是金属)的**面积与所相连的栅氧化层面积的比率**。 ![](https://img.kancloud.cn/da/3c/da3c39f669d4adc29d4ad250d5e598c8_555x108.png) 随着工艺技术的发展,栅的尺寸越来越小,金属的层数越来越多,发生天线效应的可能性就越大。 那么,我们在数字IC后端实现过程中应该如何来修复这类Violation呢? Innovus有两种场景需要添加antenna diode。 1)天线效应violation 添加保护二极管,加上反偏二极管 ![](https://img.kancloud.cn/5e/d9/5ed9f170665b6ff5498553d1eec569ec_720x492.png)